本講座は、現象の基礎方程式（支配方程式）からはじまり、さまざまな物理現象を統一的に解析するツールとなる有限要素法の基礎を徹底して学ぶカリキュラムとなっています。
　ポテンシャル流れの解析、弾性解析、熱伝導解析、波動解析など、定常・非定常の有限要素解析の理解を深めることで、複雑な現象を「計算」で捉えるＣＡＥの本質が見えてくると、自身の解析結果をロジカルに説明できるようになり、それが顧客や製造現場の信頼獲得にもつながってきます。
　さらに最終日のパソコン実習では、座学で習得した知識を業務に反映させるためのコツをつかんでもらいます。実務において有限要素法を使いこなし、シミュレーション技術を向上させたいＣＡＥ技術者の皆様には必須の学習内容となっておりますので、奮ってのご参加をお待ちしております。

◆開催概要
　日　時：　2026年8月27日, 28日, 9月1日,　4日　計4日間
　場　所：　かながわサイエンスパーク内講義室（ハイブリット）(8/27,28,9/1)
　　　　　　東京大学本郷キャンパス(9/4)
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ASTEA MACSにて温度応力解析をしています。
養生方法の設定についてご教示いただきたいです。
脱枠後に養生マットを使用する場合、
１つの面で型枠・養生マットの２つの養生方法を設定する必要がありますが、
この場合どのように設定すればよろしいでしょうか。

今年から盛土等の解析を行っている若手です。

円弧滑り解析の際の滑り位置について質問させていただきたく投稿します。
円弧滑り解析を行う際に滑りの開始位置に関してなのですが、たいていの場合、堤体天端からの滑りを想定して行われることが多いと聞きます。
自分が解析を行う際にも天端からの滑りのみを推定して検討を行っていますが、
昨日別の場所で話を聞いたところ、計算上は天端以外の位置から発生する滑り等も結果としては出てくるため、そちらを採用している場合もあると聞きます。

物理現象としてはないとは言い切れないかなとも考えておりましてどちらの方がいいのかわからないとなっております。

もし知見やそういったことを研究している論文等ありましたらご教授願いたいと考えています。

よろしくお願いいたします。

主催：公益社団法人　地盤工学会
共催：公益社団法人　土木学会

　「個別要素法(Discrete Element Method, DEM)」は、固体粒子集合体の数値解析手法として実務にも多く用いられつつあります。地盤工学会では，土木学会応用力学委員会離散体の力学小委員会と共催で、以下のように「地盤に関する解析技術（個別要素法）」講習会を企画致します。個別要素法の基礎から実務での応用までをわかりやすく解説します。また、本年度の講習会では、解析を行う上で重要な事項となる粒度、粒子形状や粒子破砕の影響、岩盤へのDEMの適用、水との連成方法および関連する粒子法との比較（および連成）についても講義していただきます。さらに、講習会の後半では、事前に配布したDEMプログラムを解説するとともに、DEMプログラムを使用した電算実習を通して、DEM解析のより有効な利用方法が習得できる構成となっております。さらに、今回は参加者の皆様から事前に質問や疑問なども受け付け、より良い情報交換の場としたいと思います。奮って御参加ください。

G-CPDポイント数：6.0
日　時： 平成24年12月11日（火）　9:30～17:30
会　場：地盤工学会 大会議室（東京都文京区千石4-38-2）
会　費：地盤工学会および土木学会会員 6,000 円　　非会員 10,000円　　学生会員　3,000円（テキスト代を含む）
テキスト：本講習会のために講師が書き下ろしたテキストを使用いたします。
持ち物：ノートパソコン
定　員：50名
講　師：前田　健一【名古屋工業大学】、中田　幸男【山口大学】、小山　倫史【京都大学】、森口　周二【岐阜大学】、松島　亘志【筑波大学】

申し込み方法など詳細はこちら：
http://www.jiban.or.jp/index.php?option=com_content&view=article&id=133…

お忙しいところ申し訳ありませんが、表題の件についてご教示いただければと思います。
ラーメン橋における上部工の降伏に対する照査方法について、許容曲げモーメントで照査する方法と許容曲率で照査する方法があると思われます。
上記の照査方法によって降伏断面が変化するという照査結果がでました。
なぜ照査方法が変わると降伏断面が変わるのでしょうか。
照査項目である曲げモーメントは発生応力より算出し、発生曲率はひずみより算出するからなのでしょうか。
頭が混乱してしまっていて自信がなく、ぜひ教えていただきたく投稿させていただきました。
また、上記の照査方法の採用については、一度両方の照査方法を試した上でより合理的な照査結果を算出する照査方法を採用するしかないでしょうか。
すいませんがご教示いただきたいと思います。